ANTARES

Eine verlässliche Mikrorisserkennung ist wichtig für die Wafer-, Zell-, und Modulproduktion. Mit unserem ANTARES System bieten wir ein zuverlässiges Prüfsystem für die automatische Erkennung von Mikrorissen in Wafern und Zellen.

Die Mikrorissaufnahmen werden nicht mehr durch Korngrenzen oder andere Strukturen, wie häufig bei Elektroluminiszenz (EL) oder Photoluminiszenz (PL) zu sehen, beeinträchtigt.

ANTARES arbeitet kontaktfrei.  Das System liefert Aufnahmen von Wafern und Zellen, mit denen eine automatische Fehlererkennung leicht möglich ist - was im Gegensatz dazu für Elektroluminiszenz und Photoluminiszenz keine einfache Aufgabe ist. Unser Konzept läuft zuverlässig und stabil; es wird nicht durch die Metallisierung an Zellen oder durch die Kornstrukturen multikristalliner Wafer und Zellen gestört. Inspektionsergebnisse können an eine bestehende Automatisierung und auch an ein MES übermittelt werden.

Das Prüfsystem wird als Inline-System angeboten. Es sind aber auch eine Reihe anderer Modelle erhältlich, z.B. für die Integration in den Stringer, als Stand-Alone-System inkl. Aussortierung von defekten Zellen und als Handstation für die Prüfung einzelner Zellen. Für die  Durchleuchtung kompletter Wafer- oder Zellstapel, z.B. als Eingangskontrolle bietet sich unser TAURUS System als Alternative an.

Das ANTARES Prüfsystem kann multikristalline Zellen der Größe 156 × 156 mm² (Dicke von 150 μm bis zu 300 μm) prüfen. Die Zykluszeit von kleiner 2 Sekunden pro Zelle erlaubt den Einsatz in automatisierten Standard-Produktionslinien. Das Prüfsystem ist CE-zertifiziert. Schnellere Zykluszeiten, Prüfung von  5” und 8” Wafer und Zellen und UL-Zertifikat sind auf Anfrage erhältlich.